高低溫試驗箱能夠長時間穩定運行

更新時間：2025-11-25

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　　高低溫試驗箱可以自動記錄測試數據，方便用戶進行分析和評估，有助于更好地了解產品在不同溫度條件下的性能表現。溫度控制精度高，誤差極小，能夠在設定的溫度范圍內準確地維持穩定的溫度環境。這對于需要進行高精度溫度測試的產品和實驗來說至關重要，例如對溫度極其敏感的電子元器件和精密儀器的測試。

　　箱內各個角落的溫度差異較小，即溫度分布均勻性良好，能使試驗樣品在相同的溫度環境下進行測試，提高了試驗結果的準確性和可靠性。采用高質量的材料和先進的制造工藝，具有良好的穩定性和耐用性，能夠長時間穩定運行，減少了設備故障和維修的頻率。

　　配備直觀的操作界面、PLC控制系統、觸摸屏以及遠程監控功能等，用戶可以輕松設置試驗參數，實時監控試驗過程中的溫度變化，部分設備還具備自動診斷和報警功能，操作便捷且安全性高。

　　高低溫試驗箱的測定步驟：

　　1.預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩定。

　　2.初步檢測：將測試樣品與標準要求進行比較，滿足要求后直接放入高低溫試驗箱。

　　3.低溫測試：樣品斷電時，按標準要求放置在試驗箱內，使箱內溫度降至-50℃，保持4小時。注意不要在樣品通電狀態下進行低溫測試，因為芯片本身在通電狀態下會產生熱量，影響測試結果的準確性，必須先凍透，再通電試驗。

　　4.高溫測試轉換：在低溫階段結束后5min內，將試驗樣品轉換為已調整的狀態，放入設定為90℃的高溫試驗箱(室)內，保持4h或者直到測試樣品達到溫度穩定。與低溫測試相反，加熱過程不斷電，讓芯片內部溫度保持高溫，4小時后執行相關測試步驟。

　　5.老化測試：進行老化測試，觀察是否存在數據對比錯誤等情況，以進一步檢驗樣品的性能和可靠性。

　　6.循環重復：高溫和低溫試驗分別重復10次，然后重復上述整個實驗方法，完成三個循環。不過根據樣品的大小和空間的大小，時間可能略有誤差。

　　7.恢復：試驗樣品從試驗箱中取出后，應在正常試驗大氣條件下恢復，直至試驗樣品達到溫度穩定。

　　8.檢測：根據標準中的損傷程度等方法評估檢測結果。如果測試過程中沒有正常工作，則視為測試失敗。

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