編程恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)芯片半導(dǎo)體濕熱循環(huán)

編程恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)芯片半導(dǎo)體濕熱循環(huán)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程．

溫度控制儀表采用液晶觸摸屏微電腦PID控制SSR輸出運(yùn)行。
1)顯示精度：溫度（01℃）；時(shí)間（1min）；（0.1%RH）
2)圖像顯示：完整的顯示設(shè)定及程序曲線。120/10組容量，每組100/10段，可循環(huán)999次
3)控制模式：定值控制、程序控制
4)可顯示設(shè)定溫度、實(shí)測(cè)溫度、總運(yùn)行時(shí)間、段運(yùn)行時(shí)間、段剩余時(shí)間、加熱狀態(tài)、日歷時(shí)間等
5)當(dāng)發(fā)生故障時(shí)，可記錄顯示故障狀態(tài)
6)可選配USB接口存儲(chǔ)方便，帶有標(biāo)準(zhǔn)的RS-232或RS-485計(jì)算機(jī)通訊接口，可選配與計(jì)算機(jī)連接，實(shí)現(xiàn)上位機(jī)管理。在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)參數(shù)的設(shè)置修改、編程及試驗(yàn)數(shù)據(jù)的存盤、打印。
7)具備斷電保護(hù)功能；有斷電保護(hù)功能和和自動(dòng)開啟功能，用戶可以根據(jù)需要設(shè)定，包括斷電又來電后自動(dòng)開啟的允許*長的時(shí)間間隔；

編程恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)芯片半導(dǎo)體濕熱循環(huán)

結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

1.試驗(yàn)箱內(nèi)膽為高級(jí)不銹鋼板制成，外殼采用SUS304不銹鋼板噴塑。
2.箱門密封條采用耐高低溫的硅橡膠，密封性能好。
3.采用理想的溫控制方式—平衡調(diào)溫調(diào)濕方式，因而可自動(dòng)獲得高低溫試驗(yàn)箱。

4.具有隨溫度的設(shè)定數(shù)值自動(dòng)選擇運(yùn)轉(zhuǎn)制冷回路的功能，操作簡單
5.采用淺槽加濕方式(表面蒸發(fā)加濕方式)

6.設(shè)有觀察窗，照明燈，便于觀察箱內(nèi)樣品情況。
7.主控儀表：采用***的寬屏液晶顯示觸摸屏可編程溫控儀。

控制器:
1.采用多款進(jìn)口控制器，用戶可以根據(jù)自身要求進(jìn)行選擇。
（1）彩色觸摸屏可程式溫控制器，中英文切換界面，操作簡單。
（2）數(shù)顯薄膜按鍵數(shù)據(jù)輸入溫控制器，英文顯示界面。
（3數(shù)顯觸摸按鍵溫控制儀，PID高精度控制，杜絕長期運(yùn)行不穩(wěn)定現(xiàn)象。
2.資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。
3.高低溫試驗(yàn)箱控制器具有P.I.D自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定。
4.可選配打印機(jī)，能打印記錄設(shè)定參數(shù)和掃描出溫變化曲線。4~200mA標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)。
5.傳感器采用鉑金電阻 PT100Ω/MV。
6.具有RS-232通訊界面，可在電腦上設(shè)計(jì)程式，監(jiān)視試驗(yàn)過程并執(zhí)行自動(dòng)開關(guān)機(jī)等功能。
四、高低溫試驗(yàn)箱制冷、加熱及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng):
1.制冷系統(tǒng)：選用全封閉法國泰康（或半封閉德國谷輪）壓縮機(jī)。采用風(fēng)冷單機(jī)壓縮/風(fēng)冷復(fù)疊壓縮制冷方式。
2.加熱系統(tǒng)：全獨(dú)立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器。
3.風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng):采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。
4.電器控制系統(tǒng)：電器控制主件采用進(jìn)口“施耐德"及“梅日梅蘭"元件，更好的控制溫度。
5.升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率，降低測(cè)試成本，增長壽命，減低故障率。溫度控制輸出功率均由微電腦演算，以達(dá)高精度及高效率用電效益。

符合標(biāo)準(zhǔn)：

濕熱試驗(yàn)箱性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93

(IEC68-2-30)