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2025-11-25 半導體芯片可靠性測試新方案 —— 三箱式溫度沖擊試驗箱的過渡緩沖技術
2025-10-15 2024-10-17 2025-07-24 2025-01-06 產品中心/ products
加速壽命測試箱HAST試驗箱，高加速老化HAST，該設備廣泛應用于電子、汽車、航空航天、通信等行業，特別是用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。
產品型號：廠商性質：生產廠家更新時間：2025-07-15訪 問 量：856
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| 品牌 | 廣皓天 | 設定溫度: | +100 ℃ ～ +140 ℃( 蒸氣溫度 ) |
|---|---|---|---|
| 濕度范圍 | 75~100 % 蒸氣濕度 | 溫度均勻性 | ±1.5℃ |
| 濕度控制穩定度 | 3%RH | 使用壓力 | 1.2~2.89kg(含1atm) |
| 時間范圍 | 0 Hr ～ 999 Hr |
加速壽命測試箱HAST試驗箱
?? 極限加速
? 通過 105~180℃高溫 + 100%RH飽和蒸汽 + 0.02~0.4MPa高壓 三重復合應力
? 實現1000小時環境老化 → 壓縮至96小時（加速因子≥10X）
? 半導體封裝/車規芯片/軍工電子可靠性驗證的方案
| 技術維度 | 傳統恒溫恒濕試驗箱 | HAST試驗箱 |
|---|---|---|
| 溫濕度極限 | 85℃/85%RH（常壓） | 150℃/100%RH（高壓飽和蒸汽） |
| 失效機理 | 表面氧化 | 滲透性腐蝕（模擬真實失效） |
| 測試周期 | 1000小時起 | 24-96小時完成同級測試 |
機械結構:
a.圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可防止試驗中結露滴水設計.
b.圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.
c.精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續 1000Hrs 運轉.
d.專li型packing設計使門與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式不同,可延長packing壽命.
e.臨界點 LIMIT 方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示.
加速壽命測試箱HAST試驗箱
溫度控制
范圍：105℃~180℃（分段可調）
均勻度：≤±1.0℃（JESD22-A110認證）
波動度：≤±0.3℃
濕度系統
100%RH飽和蒸汽環境（非冷凝）
控制精度：±2% RH（通過壓力-溫度閉環控制）
壓力容器
304不銹鋼內膽（耐壓0.6MPa）
雙通道泄壓閥 + 機械式安全門鎖
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